Scanning
electron microscope (SEM)
A Sugárkémiai Osztály egyik alap műszere a JEOL JSM 5600LV pásztázó elektronmikroszkóp. A mikroszkóp feszültsége 0,5 és 30 kV között, a nagyítás x35 – 300 000 között választható.
A megszokott magas vákuumu üzemmód mellett a mikroszkóp tetszés szerint alacsony vákuumban is használható, Ez a kímélő üzemmód a sok vizet tartalmazó, és biológiai mintáknak kedvez, melyek így minden előkészítés nélkül vizsgálhatók, nagyban csökkentve az előkészítés miatti hibaforrások lehetőségét. A magas vákuumot igénylő, szigetelő felszínnel rendelkező mintákat (ilyenek a polimerek példáúl) előzetes arany vagy platina-lpalládium réteggel való bevonása (a JFC-1300 Auto Fine Coater segítségével) után nézhetők.
Mikroszkópunkon leginkább polimer felszíneket, hidrogéleket, mikro- és nanogyöngyöket, monolitokat tanulmányozunk, de különböző biológiai mintákat, pamut- és cellulóz minták és üvegszálak károsodását is vizsgáljuk. Ezek mellett, részt veszünk radioktív minták beazonosításának vizsgálataiban is.
A mikroszkópot egy IXRF EDS2000 energiadiszperzív spektrométer egészíti ki, mellyel a mikroszkópban elhelyezett minta felületének elemösszetételének kimutatását és az elemek eloszlás-térképezését is elvégezhetjük. Az elektronsugaras mikroanalízis mellett lehetőségünk van röntgenfluoreszcens analízis elvégzésére is, XRF feltéttel. E mérések előnye az alacsony háttér, ebből következően lehetőség van nyomelemanalízisre is.
A minták hőterhelése jelentősen kisebb, mint elektronsugaras mikroanalíziskor, ami főként biológiai minták vizsgálatakor előnyös.
